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CHIPプログラムと設備－解析ライン（LA）
Chip（1次系内よう素化学）プログラムは、原子炉炉心溶融事故の際に放出される可能性のあるよう素の量をこれまで以上に的確に評価する助けとなる。解析ラインは、予め混合した火炎を使って、4元素（X、I、O、H）系の様々な均一気相反応についてよう化物の化学的生成メカニズムを探る。
試験の目的
このプログラムは；
よう素、他の核分裂生成物（X = Cs、････）又は制御棒の一元素（X = Cd）、水素、そして水蒸気を含む混合物について、基本的な反応速度データの取得を可能とする。
加圧水型炉の1次系内における放射性核分裂生成物の挙動のモデル化を可能とするデータベース（気体よう化種の化学的特定、基本的な反応速度データ）を拡充できる（IRSNが開発したソフトウェア「Astec」）。
実験装置と試験条件
試験装置の構成は以下の通りである：
複数の試薬投入チャネル（よう化水素（HI）ガスボンベのよう素、水素/水蒸気混合物発生器、ガスボンベからのO2燃料、他の試薬（Cs、Cd、等々））；
試薬を反応させる一次元火炎を生成する気体混合物の供給を受けるバーナー；
低圧燃焼容器；
気体試料連続採取システム；
求める化学種の特定及び定量化（分子、原子、基）に適応する分析装置。
この実験装置は、火焔内の温度変化に応じた化学種の量的変化を決定できる。
実験データは、詳細な反応メカニズムを開発するため使用される。研究のパラメータは温度（500から2,000 K）と化学試薬の濃度である。パラメータは、事故状況下で水型炉の1次系内で考えられる範囲を代表している。
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